Трёхлетний стресс-тест microSD: записано 133 ПБ данных, у SanDisk вышли из строя 6 из 7 карт

Энтузиаст Matt Cole опубликовал очередные результаты своего длительного стресс-теста карт microSD, который начался в 2023 году. За три года стенд записал на накопители 133 ПБ данных и выполнил 4,6 млн циклов записи, проверки и стирания.

В базе Cole числится 351 карта 111 моделей от 52 брендов. Из них 177 устройств уже признаны отказавшими: карта полностью перестала работать, перешла в режим только для чтения либо ошибки проверки затронули более половины её секторов. Ещё 107 карт продолжают испытания, а 67 ожидают свободного слота в стенде.

Автор делит накопители на три группы: обычные потребительские, модели с повышенным ресурсом и промышленные карты. Для потребительского сегмента средний результат составил около 10 тыс. циклов. В первой пятёрке по данным проекта оказались PNY, Kingston, Delkin Devices, Lexar и Samsung. Например, десять протестированных карт PNY в среднем проработали 643 дня, выдержали 15 700 циклов и записали суммарно 11,5 ПБ; отказала одна карта.

Отдельно выделяется результат SanDisk среди карт с повышенным ресурсом: из семи испытанных экземпляров отказали шесть. В той же категории у TEAMGROUP и Transcend на момент публикации не было отказов — однако их выборки состояли соответственно лишь из двух и трёх карт. У Samsung в этой группе из трёх карт отказала одна.

Карты Amazon Basics также пока не вышли из строя: они работают 788 дней, прошли в среднем 16 600 циклов и записали 4,2 ПБ. Однако Cole не включил их в основной рейтинг, поскольку производитель может сменить используемые NAND-чипы, и тогда результаты для нынешних партий потеряют актуальность.

Результаты не следует напрямую переносить на обычное использование карт памяти. Испытания намеренно создают экстремальную нагрузку, с которой большинство владельцев microSD не столкнётся. Кроме того, по ряду брендов и категорий выборка пока невелика. Исходные данные теста автор публикует в открытой базе.